ٹیسٹنگ آئٹمز میں شامل ہیں: نازک درجہ حرارت (Tc)، 0.01 K کی درستگی کے ساتھ، نارمل حالت سے مواد کی سپر کنڈکٹنگ حالت تک منتقلی کے درجہ حرارت کی حد کی پیمائش؛ اہم مقناطیسی میدان (Hc)، کم از کم مقناطیسی میدان کی طاقت کا تعین کرنا جو سپر کنڈکٹنگ حالت کو تباہ کر دیتا ہے، جس کی ریزولوشن 0.001 T؛ کرنٹیکل کرنٹ ڈینسٹی (Jc)، زیادہ سے زیادہ کرنٹ لے جانے کی صلاحیت کا اندازہ لگاتے ہوئے، 5% سے کم یا اس کے برابر کی غلطی کی حد کے ساتھ؛ مزاحمتی جانچ، 10⁻Ωm کی حد میں مزاحمتی اقدار کی پیمائش؛ مقناطیسی حساسیت کی پیمائش؛ تھرمل تجزیہ کی جانچ، پگھلنے اور کرسٹلائزیشن کے درجہ حرارت کا تعین؛ اور مائیکرو اسٹرکچر کا تجزیہ، مواد کے مائیکرو اسٹرکچر کا مشاہدہ۔
جانچ کے طریقوں کے بارے میں، مزاحمتی جانچ ڈی سی فور-تحقیقات کا طریقہ استعمال کرتی ہے۔ اہم موجودہ کثافت کی پیمائش چار-تحقیقات کا طریقہ استعمال کرتی ہے۔ مقناطیسی حساسیت کی پیمائش مخصوص کم-درجہ حرارت کی مقناطیسی کارکردگی کی جانچ کی وضاحتوں کو یکجا کرتی ہے۔ تھرمل تجزیہ جانچ میں تفریق اسکیننگ کیلوری میٹری کا استعمال کیا جاتا ہے۔ اور مائکرو اسٹرکچر تجزیہ اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپی کا استعمال کرتا ہے۔
جانچ کے آلات کے معیارات کے لیے PPMS مربوط جسمانی جائیداد کی پیمائش کے نظام کی ضرورت ہوتی ہے تاکہ 1.9K-400K کی درجہ حرارت کی حد کے اندر مزاحمت اور مقناطیسی حساسیت کی درست پیمائش کی جا سکے۔ SQUID میگنیٹومیٹر ایک 7T سپر کنڈکٹنگ مقناطیس سے لیس ہے، جو 0 سے 7T تک مقناطیسی میدانوں میں ہسٹریسیس لوپس کی پیمائش کرنے کے قابل ہے۔ کریوسٹیٹ سسٹم 4K سے 300K تک مسلسل متغیر درجہ حرارت کا ماحول فراہم کرتا ہے۔ 10fA کی ریزولیوشن کے ساتھ 1μA سے 1A تک کی اعلی-پریسیزن DC پاور سپلائی آؤٹ پٹ کرنٹ؛ X-رے ڈفریکٹومیٹر LynxEye ڈیٹیکٹر سے لیس ہے جس کی کونیی ریزولوشن 0.0001 ہے۔ اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ کی ریزولوشن 1nm ہے اور یہ EDAX انرجی ڈسپرسیو سپیکٹروسکوپی سسٹم سے لیس ہے۔ چار-تحقیقات کی جانچ کا مرحلہ 77K سے 300K تک کم درجہ حرارت کی جانچ کی حمایت کرتا ہے۔ اور وائبریٹنگ سیمپل میگنیٹومیٹر میں 3T کی مقناطیسی فیلڈ رینج اور 10⁻⁶emu کی حساسیت ہے۔
